二手 CAMECA TOF-IMS 4F #9351327 待售

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製造商
CAMECA
模型
TOF-IMS 4F
ID: 9351327
Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS).
CAMECA TOF-IMS 4F是由CAMECA开发的用于研究表面和界面的高性能二次离子质谱仪(SIMS)。其设计基于飞行时间(TOF)质谱技术和四场离子光学设备。仪器利用二次离子源产生指向样品表面的聚焦离子束。当离子在样品的深度剖面中相互作用时,离子与样品相互作用,从而允许对表面和界面进行深度剖面分析和表征。二次离子根据其质荷比分离,使用MCP检测器检测。该系统的TOF特性允许快速获取质谱和全面的元素识别。TOF-IMS 4F单元具有更好的空间分辨率,能够更精确地进行深度分析和成像。离子光学器件由等离子源阴极、差分萃取机、离子镜和二次电子抑制器组成。离子光学工具允许从样品表面快速获取高分辨率二次离子质谱。气体耦合低能电子探测器(GC-LEED)也可用于成像样品表面。CAMECA TOF-IMS 4F还提供了广泛的应用,如表面分析、材料表征、原子分层深度剖析、表面结构成像和样品表征。该资产还可用于元素识别和表面分析应用,包括半导体表征、表面和界面分析、污染表征和故障分析。TOF-IMS 4F是一款功能强大、用途广泛的材料研究工具,提供高灵敏度和速度、低功耗、出色的样品表征能力。此外,还可以通过附加附件升级型号,以获得更多功能。
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