二手 FRT MicroProf #293606720 待售

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ID: 293606720
优质的: 2011
Wafer testing and metrology 2011 vintage.
FRT MicroProf是一种晶圆测试和计量设备,旨在对晶圆特性进行严格的测量。它具有高度的准确性和可重复性,具有集成的聚焦和测量能力。该系统利用探测站进行晶片测试-它能够在晶片上安装和成像设备,并测量其电气特性。探测站可连接到大多数测试和测量仪器,并具有同时控制多个设备的能力。MicroProf还包括一个测量晶圆特性的阶段。这个阶段有一个俯仰偏航的机动机械定位单元,可以在可以采取的测量中进行精确的调整和极大的通用性。它还具有电动Z轴驱动器,可提供精确的测量和更精确的分析。在计量方面,机器采用高分辨率检查/计量显微镜工具。此资产能够捕获晶圆的图像、测量特征和执行3D可视化。显微镜模型升级了一个高质量的传感器,确保精确和可重复的测量。设备还包括光学散射法,用于测量晶圆上小表面特征的厚度、折射率和形状。散射测量有一个自动校准系统,这对于保持精确和可重复的测量是必不可少的。最后,该单位还有一个数据采集和监控软件包。这允许用户监视和记录所有测量,以及生成报告和分析数据。总之,FRT MicroProf是精确、可重复测量晶圆特性的有力工具.其优越的机械和光学能力,加上其高分辨率的检验/计量显微镜机,使其成为晶圆测试和计量的有效选择。
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