二手 KLA / TENCOR P11 #9047326 待售

KLA/TENCOR P 11晶片测试和计量系统旨在提供更准确和高效的晶片测试能力。利用最新的光学监控技术,KLA P-11使半导体制造商能够比以往任何时候都更准确地测量其使用样品上的厚度、掺杂水平和晶格常数（各种尺寸和形式）。TENCOR P 11的主要目的是在处理开始之前识别样品中的缺陷。有了检测晶体故障、团聚、体积缺陷、表面异常的能力，P 11比人工目测方法效率要高得多。TENCOR P-11利用焦点变化技术与电荷耦合器件（CCD）检测器结合使用。它通过在测量反射光强度的同时扫描晶圆上的聚焦光束来执行测试。然后对样品表面缺陷或内部缺陷引起的反射光强度变化进行量化,并以图形格式显示在监视器上。KLA/TENCOR P-11与手动目视检查方法相比,为制造商提供了许多好处。例如,它提供快速、准确且具有高重复性的结果。此外，它的数据分析能力远远优于人工目视检查方法。而且，KLA P 11可以用于任何样本量或形状，需要最低限度的样品制备。这也是一个高度敏感的非接触式测量系统，它消除了与手动程序相关的危险。此外,P11还提供了超出缺陷检测范围的复杂分析功能,例如测量样品层的厚度、计算掺杂剂的组成、电性能和晶格常数,以及确定表面层的表面粗糙度。总体而言，KLA P 11晶圆测试和计量系统是任何半导体制造商必不可少的工具，因为它使它们能够进行准确和高效的测试，以确保其产品的最高质量。通过使用KLA/TENCOR P 11,制造商可以放心,他们的样品已经过彻底测试,将满足客户的期望。