二手 KLA / TENCOR P20 #184141 待售

KLA/TENCOR P 20是一种晶圆测试和计量设备,能够精确测量晶圆过程控制所必需的参数。该系统设计用于半导体制造、数字信号处理、医疗设备等高性能光学计量应用。该单元有许多不同的特点，使其适合评估范围广泛的半导体晶圆。机器的核心是PixThinTM图像传感器阵列,它提供高分辨率和出色的信噪比,以及广泛的动态范围。传感器以市场上任何其他工具无法比拟的速度捕获和存储图像。这样就能够对各种晶圆特性进行可靠和精确的测试,例如掺杂水平、几何形状、线宽和倾斜,且误差风险最小。KLA P-20的另一个关键特性是其Micro Track TM软件，它能够精确控制和测量晶圆特性。该软件测量晶圆的特性到纳米精度，以及线宽、层厚度等等。它还能够精确捕获和分析广泛的晶圆形状，如扁平、矩形、弯曲和椭圆晶圆。该资产还具有先进的低温测量模型，即使在低温下也能进行精确计量。这对于需要纳米级精度和可重复结果的应用非常重要,例如测试制造过程的精度或控制数字信号处理设备。TENCOR P 20可用于一系列应用，从半导体制造的晶圆测试到数字信号处理器件的晶圆测试。高精度、高速度、高可靠性,是确保质量控制和可靠结果的理想之选。其特性范围使得它成为各种应用的理想选择，无论是用于测量掺杂水平还是验证信号完整性。