二手 KOBELCO SRP-200B #9085625 待售

KOBELCO SRP-200B是一种通用的晶片测试和计量设备,旨在实现高度精确的非接触式在线测量晶片测量参数,如表面粗糙度、纹理、侧面高度和薄膜厚度。SRP-200B由测量头和计算机工作站组成。测量头包含一个摄像头、机械扫描仪和光学器件，安装在多轴线性和旋转定位系统上。相机捕获晶片表面的图像进行分析。扫描仪由一个光源、一个照相机、镜头和光学器件以及镜子和聚焦元件组成，能够对晶圆表面进行受控的高精度扫描。光学器件由一个微透镜阵列和一个偏振器组成，可用于在30 X 30 mm表面积上测量薄膜厚度和表面粗糙度，精度为+/-1 nm。测量头通过USB接口连接到工作站。工作站中集成的功能强大的软件允许用户捕获晶圆表面的图像、处理数据并保存结果。软件还支持成像、分析、显示和数据处理。KOBELCO SRP-200B的设计具有很高的灵活性,允许客户根据需求的变化来定制设备以满足自己的特定需求。使用者可以加入额外的光学元件，例如滤镜机，使他们能够测量更广泛的胶片和材料。此外,SRP-200B具有高分辨率（每英寸高达5000像素）,可以精确测量非常微小的特征。KOBELCO SRP-200B是一种坚固可靠的晶圆测试和计量解决方桉,可提供准确的结果和优异的性价比。凭借先进的软件、一系列光学元件以及多轴定位能力，设备能够满足一系列应用需求。SRP-200B是晶圆测试和计量的理想解决方桉。