二手 KRUSS G10 #183074 待售

看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。

製造商
KRUSS
模型
G10
ID: 183074
Drop Shape Contact Angle Analysis System Images of sessile drops, enclosed bubbles and pendant drops can be fitted to yield surface tension, interfacial tension, and contact angle data Zoom objective allows drop image to always be shown at the maximum size possible Can be used on solids.
KRUSS G 10是一种先进的晶圆测试和计量设备,设计用于多种应用。KRUSS G 10利用先进的计量技术来测量、分析和报告半导体晶片的电气和物理特性。该系统能够单次测量多达4000个二极管,提供有关晶圆特性的高度准确和详细的信息。G 10单元包括高级光学成像功能,允许用户在晶圆表面上缺陷和测量各种特征。晶圆热控制、产量和均匀度测绘、工艺窗口测绘、光学诱导的材料变化和粒子分析等多种特征都能够进行测量和快速监测。晶圆被照亮,图像被获取实时反馈,以便于模式匹配。除了光学成像,G 10机还提供电气晶圆探测功能。这是使用专用的晶圆映射解决方桉完成的,该解决方桉允许对多达4000个二极管进行完整的电气测试映射,从而获得更准确和可重复的结果。该工具还能够映射和测量电接触点,使用户能够准确确定是否存在电接触。KRUSS G 10资产还具有高度可定制的用户界面,允许用户配置和定制模型以满足其特定需求和偏好。此外,还提供各种特定于应用程序的软件插件,确保提供最准确、用途最广泛的晶圆测试和计量设备。所有KRUSS G 10系统都附有终身支持和维护政策,确保在出现任何问题或复杂情况时,用户能够及时获得可靠的支持。这让用户在使用系统时安心,因为他们将有信心知道自己的投资受到保护。总体而言,G10是一个先进的晶圆测试和计量单元,为用户提供精确度、精确度和多功能性的最佳组合。由于能够测量和分析半导体晶片上广泛的电气和物理特性,G 10已成为许多行业可靠可靠的工具。可自定义的用户界面还确保用户能够配置计算机以满足他们的确切需求。KRUSS G 10采用终身支持和维护策略,可以让用户在购买时安心。
还没有评论