二手 LEO GIKEN LTA-700 #9047302 待售

LEO GIKEN LTA-700是一种高度先进的晶圆测试和计量设备,为各种晶圆制造工艺提供了卓越的精度和速度。该系统非常适合半导体应用,如圆形晶圆规格测试、双面对准、基板测试和模具分析。LTA-700包括一个精密晶片级和一个具有四级调节的双滑动光学表。这个单元设计用来容纳直径达200毫米的晶片，可以处理250克的最大重量。集成光学显微镜的变焦范围高达400倍，允许对晶圆特征进行高放大分析。机器的成像能力为各种检查任务提供出色的分辨率、对比度和信噪比。它还能够在能源部实验室工作，工作范围从紫外线到红外，使其能够用于各种测量。为了满足晶圆测试和计量的苛刻要求，LEO GIKEN LTA-700采用了精确、热稳定的光表。该表具有高达45°的可调倾斜角度范围。这允许精确定位，即使在处理温度变化或振动敏感过程时也是如此。该工具配备了精简的用户界面，允许对其高级操作进行更直观的控制。此外,用户还可以通过LTA-700的USB端口轻松访问和存储数据。用户友好的触摸屏也使操作更简单，并且不需要复杂的按钮和电缆。对于自动扫描功能,LEO GIKEN LTA-700集成了位置和中心资产。这样可以很容易地识别晶片表面上的四个点。一旦发现晶片，就用精确的自动化方法检查晶片。该模型采用高速测量头，可快速高效地循环通过晶片。LTA-700为晶圆测试和计量应用提供了精确度、速度和经济性的完美结合。从常规基板测试到要求很高的模具分析，这种晶圆检测设备已证明是各种生产工艺的可靠且经济高效的解决方桉。