二手 N&K Little Foot 8000-CD #9202547 待售

ID: 9202547
晶圆大小: 8"
优质的: 2007
Thin film measurement system, 8" Patterned / Unpatterned wafers DUV-Vis-NIR Wavelength range: 190 nm to 1000 nm Reflectance Polarized Analyzer unit with spot size: 50 um Operating system: Windows 7 Standard films library Automated wafer loading / Unloading ASYST Load port, 8" Computerized X-Y stage for full wafer mapping Wafer alignment capability Z-Stage to accommodate multiple substrate thicknesses Includes: Dielectronics: SiO2 & Si3N4 Semiconductors Polymers Photoresist Thin metals SEMI & CE Certification 2007 vintage.
N&K Little Foot 8000-CD是一种晶圆测试和计量设备,设计用于精确的表面计量和设备类型的计量。它结合了先进的光学成像和prober的体积设计,以实现高吞吐量和准确性。该系统具有独特的主动阵列成像单元,利用先进的波前映射,以无与伦比的分辨率和精度来测量每一个结构的浅深度表面地形。成像机在三个维度上捕捉每个设备和跟踪特征的精确轮廓,可用于测量设备参数,如表面地形、形状和厚度。Little Foot 8000-CD有一个集成的多层晶圆映射器,它提供表面和总层厚度计量。内置的绝对层映射软件允许对每个层进行快速、可重复的测量,并具有一个自动数据库工具,用于存储测量数据以供参考和历史记录。N&K Little Foot 8000-CD还有一个机器人晶片处理程序,它在封闭的腔室内移动晶片,确保晶片不会受到不需要的外部气体或颗粒的污染。这样可以确保从资产中收集的计量数据准确可靠。Little Foot 8000-CD还包括多个具有网络连接的CPU系统,允许多个用户从不同位置访问模型。该设备的设计非常方便用户,具有直观的图形用户界面,可简化操作并方便地访问参数、测试计划和图形数据。N&K Little Foot 8000-CD是一个强大的晶圆测试和计量系统,能够进行高通量晶圆计量测量和表征。它专为精确的表面和设备级计量设计,提供详细的三维数据,可用于各种应用,如过程表征、过程调试和产品计量。Little Foot 8000-CD具有先进的成像单元和集成的多层晶圆映射器,是各种设备类型最新计量分析的理想工具。
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