二手 SEMITEST Epimet #196461 待售

SEMITEST Epimet是一种晶圆测试和计量设备，设计用于提供高度精确的计量、模具分选和微电子元件的无损检测。该系统采用全自动4英寸晶圆测试套件,具有20KV加速电压、无人值守操作和针对特定用户流程需求而设计的模块配置。Epimet的模具排序能力旨在检查晶片的生产和质量控制。该装置采用自动计量机，配有先进的光学工具，用于检测晶圆中的凹坑、划痕或污染物等缺陷。其先进的分选算法旨在在检测电子短路的同时，可靠地开发晶圆缺陷的模式。SEMITEST Epimet具有用于模具缝合的高分辨率光学彩色相机,以确保精确检查。通过8X放大检测，资产可以精确定位晶圆表面的缺陷到1-5微米。这种能力允许用户检测其半导体器件中的亚微米特性。此外，Epimet还提供无损检测解决方桉，包括高速光学电气测试（OET），它允许对晶圆上的多个测试位置同时进行电气测试和光检查。它还为高速数据收集提供了同轴电流探针测试。该模型是为生产效率、可靠性和长期成本效益而设计的。它采用模块化设计，便于重新配置，增强了测试设备适应不断变化的需求的能力。SEMITEST Epimet也与其他测试系统兼容，因此用户可以最大限度地提高其测试过程的生产率和成本效率。该系统旨在为用户在微电子元件的检测测试中提供高精度、高速、可靠的性能。从模具排序和无损测试应用到光学表征和计量，Epimet提供了一个全面的晶圆测试解决方桉。