二手 VEECO / SLOAN DEKTAK IIA #197824 待售

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ID: 197824
优质的: 1984
Wafer Surface Profiler.
VEECO/SLOAN DEKTAK IIA晶片测试和计量设备是一个自动化和多用途的计量平台,旨在满足各种应用的地形和纳米表面表征需求。该系统为半导体制造、研发和分析表面科学领域的应用提供低调、非接触式的诊断。VEECO DEKTAK IIA使用电容驱动的非接触触控笔测量单元,适用于表面粗糙度和步高以及表面电阻率/电导率的相关测量。SLOAN DEKTAK IIA实现了低0.1微米(10-nm)垂直分辨率的电阻扫描,以精确捕获样品上甚至最小的地形特征。扫描速度和接触力是可调的,允许用户调整机器以更好地适应被观察样品的需要。DEKTAK IIA提供高达1000X的动态范围,允许对高长宽比样品进行精确和可重复的测量。直观的软件包允许用户自定义显示以显示轮廓映射、横截面轮廓和其他图形表示。这样可以快速识别样品上的形态特征,为用户提供对样本的全面了解。除了简单测量地形特征外,VEECO/SLOAN DEKTAK IIA还可以用于各种晶圆测试和计量应用。这包括光刻、制版、金属间介电测量、非接触式化学浓度测量。VEECO DEKTAK IIA还配备了可选的紫外线光源,可直接成像光阻和光阻层厚度。为了确保最准确的结果,SLOAN DEKTAK IIA还为各种样本量提供了广泛的样本持有者。这样可以确保样品安全保存到位,而不会在测量过程中发生移动的风险。DEKTAK IIA专为自动化操作而设计,可为各种计量需求提供快速可靠的数据收集。
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