二手 FURUKAWA S175 #9105842 待售
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ID: 9105842
Splicer
Silica glass based optical SM / MM/ DSF fibers
Coating / Clad Dia: 0.25-0.9mm / 0.1-0.15mm
Cleave Length: standard 16mm optional 10mm
Average loss:SM: 0.02dB MM: 0.01dB DS: 0.04dB(with identical Furukawa fibers)
Reflection: -60dB or lower
Estimation accuracy: +/- 0.05dB (loss <0.4dB), +/- 15% (loss>0.4dB)
Operating time: Splice: 20s (typical),Heat: 90s (typical for S921)
Tension test: 200g (0.4lbs), option 440g (0.9lbs)
Attenuation splice: 0 to 10 db by 0.1 db
32 Splice Program with one Auto splice mode 4 pre-programmed. 28 customisable
Inspection: Cleave angle, Fibre end gap, core eccentricity, offset, tilt, micro bending, Bubble at spliced point
Display information: operating message, ARC counter, clock, heater status, estimation loss, finder image X Y view.
FURUKAWA S175是由FURUKAWA Electric Co.Ltd.这种电子测试设备使工程师和技术人员能够快速准确地评估设备的参数。S175是一个高度先进的测试系统，能够在多个测试系统中同时进行测试。这使设备能够在不同的参数上获取同一设备的大量读数。这减少了对昂贵的替换的需求,因为可以以较低的成本获取更准确的读数。FURUKAWA S175具有一系列的测量和控制功能。其操作员界面在浏览菜单选项时提供了用户友好的体验。这些功能对于复杂的测试程序很有用,例如半导体器件测试所需的程序。S175采用集成的强大计算功能,能够快速高效地执行测试。自动分析和结果显示减少了所需的手动工作,从而提高了测试分析和调试的效率。这使得它非常适合用于自动化生产线以及研发。FURUKAWA S175包含各种输出端口,包括数字和模拟,使其能够轻松连接到许多不同类型的正在测试的设备。这也允许同时收集、存储和分析不同类型的测试数据。例如,S175能够跟踪和存储交叉切口数据,例如定时或信号特性,从而使测试人员对设备的性能有更详细的了解。FURUKAWA S175还提供了一系列触发选项,允许用户定义将启动测试过程的条件。这使用户能够很好地控制测试过程,从而尽可能高效地执行测试。S175的设计符合电子行业最严格的标准，确保它对所有类型的测试都是可靠的。这款测试机同样重量轻，便携性高，非常适合在移动中使用。总体而言,对于需要电子设备评估综合测试工具的工程师或技术人员来说,FURUKAWA S175是一个极好的选择。
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