二手 MULTILANE ML 4054-400 Gen 2 #293640895 待售

MULTILANE ML 4054-400 Gen 2是MULTILANE开发的电子测试设备（ATE）。该ATE作为一个开箱即用的解决方桉,用于表征高速数字设备和集成电路（IC）。该仪器提供了前所未有的配置能力,使操作员能够快速轻松地定义串行接口和数据协议。利用此功能,用户可以简化测试过程并降低开发成本。ML 4054-400 Gen 2 ATE支持高速数字和溷合信号接口,如LVDS、CML、PCIe和HDMI等。它具有先进的信号质量性能，允许以高达16 Gbps的速度全面测试高速信号。该设备还提供了全面的测试环境，允许用户执行自动化的设备表征和系统级模拟。此外,ATE旨在满足当今高速应用程序的严格要求,并提供针对ESD、电源故障和其他常见威胁的全面保护。MULTILANE ML 4054-400 Gen 2 ATE具有很高的可编程性，使得它适合硬件设计者和IC设计者需要配置单元以匹配他们正在测试的设备（DUT）。该仪器能够控制差分驱动水平和高速信号，在设置测试参数时允许最大的灵活性。广泛的脚本和脚本功能使用户能够快速轻松地对机器进行编程,以确保获得可靠的结果。此外,ATE还具有各种灵活的触发、同步和控制功能,可帮助自动化测试。ML 4054-400 Gen 2 ATE包含多个图形用户界面（GUI）,使其能够快速轻松地进行设置和配置。它还具有嵌入式设计语言，使仪器可以用作自动测试工具（ATS）。该仪器与专有的MULTILANE Pattern Generator（MPG）耦合，简化了模式执行的过程。此外,ATE支持低级嵌入式固件操作,使仪器能够有效地控制多个I/O引脚。MULTILANE ML 4054-400 Gen 2 ATE还有一个内置的模拟引擎和性能指标资产，允许用户确定自己的设备是否符合产品规格。该模拟器可帮助用户可视化其结果,并为他们提供有关其设计执行方式的见解。它还支持数据分析工具,帮助用户更彻底地排除其设计故障。ML 4054-400 Gen 2 ATE是一种用于电子测试和表征的多合一解决方桉。其先进的特性、灵活性和可编程性使其成为高速设计和表征不可或缺的工具。