二手 TEKTRONIX P6133 #9264343 待售

TEKTRONIX P6133是一种电子测试设备，设计用于探测具有嵌入式内存系统的设备上的高速、高频信号。它是一种提供最大信号保真度和最小电压瞬态的高性能测试探针。它具有特殊的低偏转尖端，旨在减少高速过渡造成的超调和下冲。P6133具有创新的设计,可以快速、轻松地将刀尖安装到位,从而在各种测试方桉中快速、方便地使用。探头的低偏转尖端旨在减少高频跃迁产生的电压波动。其高频性能因电容为0.5 pF而进一步增强。探头的高频响应也因其0.5 pF的低电容负载而增强。这种低负载允许设备进行测试，而不会产生与高电容负载相关的速度损失。TEKTRONIX P6133探测器具有高达30 GHz的扩展频率范围和高信号保真度。它还具有低调的特点，使得它非常适合空间受限的测试环境，以及0到500 V的宽动态范围，这使得它适合测试各种设备如DRAMS、SRAM和闪存。它的低电容有助于确保最高的信号完整性和最小的串扰。P6133探头还具有独特的弹簧超调技术，旨在降低高速测试过程中的振铃噪声和超调。这样可以在测试过程中提供稳定的信号,确保准确性和可重复性。它还采用自校准技术，在测试过程中确保正确的探针补偿。TEKTRONIX P6133既可用于基准测试应用程序,也可用于便携式测试应用程序。它的手提箱设计可以承受频繁的操作，使其在各种测试场景中都非常耐用。P6133还配有硅防尘罩，以保护它免受碎片和其他环境因素的影响。总体而言，TEKTRONIX P6133是一种高度通用的测试探针，非常适合探测嵌入式内存系统上的高速、高频信号。它提供高性能、快速设置和最小的电容负载。其低偏转尖端提供高频响应，能够进行准确的测试而不会招致速度损失。其自校准技术进一步提高了精度。它非常适合各种便携式和基准测试应用程序。