二手 TEKTRONIX SJ300E/03/3C #107568 待售

TEKTRONIX SJ300E/03/3C是一种电子测试设备，用于测量卷轴和半导体元件的特性。这种多用途、多功能的设备旨在满足制造环境中质量控制和过程监控这一具有挑战性的要求。该系统采用三维成像、数字速度控制和纠错技术，对几乎任何类型的部件进行精确可靠的测量，利用阴影图像、成像光学质量测量和带纠错的数字速度控制三种成像技术，准确捕捉物体的三维特征。利用成像光学器件和数字速度控制,该设备可以对0.5至40 mm的零件在微米范围内进行有意义的测量。这个通用单元能够测量各种样本量和形状，无论是卷曲的还是半导体的。使用成像光学器件,SF300E/03/3C可以测量样品的体积、表面积和厚度,从而可以精确确定包装所需的粘贴体积,并深入了解样品的结构完整性。此外,该机器还能够检测样品中的缺陷和非均匀性。使用红光二极管，该工具可以测量表面缺陷面积，使其成为QC或过程监控的理想选择。SF300E/03/3C提供的数字速度控制可确保整个样品以恒定速度移动,从而能够按顺序进行多次测量,同时无需持续调整速度控制。该单元还具有纠错资产,可确保即使是很小的错误或过程变化也能立即被检测和纠正,从而最大限度地减少出现错误结果和产品不一致的风险。TEKTRONIX SJ300E/03/3C是一个可靠、经济高效的单元,可以快速轻松地纳入现有的质量控制框架。其强大的成像光学和数字速度控制使其非常精确,使其能够精确测量各种样本量和形状。通过其纠错模型，可以立即检测和纠正小错误，确保结果一致，降低生产问题风险。总之,TEKTRONIX SJ300E/03/3C是一种高度可靠、通用且经济高效的设备,适用于任何QC或过程监控应用程序。