二手 YOKOGAWA OR 300E #9198606 待售

YOKOGAWA OR 300E是为全面分析半导体器件特性而设计的先进电子测试设备。它配备了可测量电阻、电容、漏电电流、直流电压等低频电性能的精密工具，以及传输电容、C-V斜率、最大振荡频率（MOF）等高频电性能。该设备有助于了解被测设备（DUT），并研究制造参数对其性能的影响。对于需要可靠、准确且具有广泛频率覆盖范围的电气测试的工程师来说,OR 300E是理想的选择。它提供了广泛的测量功能，包括一个用户友好的软件包，用于数据处理和分析。集成的触摸屏显示器提供测试设置和结果的清晰视图。YOKOGAWA OR 300E可以很容易地与其他实验室仪器结合起来进行更详细和复杂的测量。这款创新设备拥有功能齐全的数据处理和分析软件，提供一系列数据处理的可能性，如线性拟合、等效电路模拟、曲线跟踪等。该软件还可用于测量各种正在研究的材料的介电特性。OR 300E具有横川先进设计的Digital Lockin Detector,它能够检测来自广泛动态范围的小信号,并在每次测量时提供可靠和可重复的结果。该设备还包括一个可选的加热器系统，使其能够在扩展的温度范围内进行测试。YOKOGAWA OR 300E具有64或128通道直流（DC）偏置测试仪的集成超宽动态范围。这种灵活的仪器测量半导体器件的栅极特性，使其成为各种应用特定任务的理想选择。测试程序还支持自动测试例程,并在软件中集成了独特的"自动测试"功能。综上所述，OR 300E是一种功能强大且用途广泛的工具，能够对半导体器件进行全面表征。该设备在广泛的动态范围内提供可靠和可重复的测量，并可容纳各种测试应用。YOKOGAWA OR 300E拥有全面的软件套件,是任何实验室的理想选择。