二手 ELLIPSOTECH Elli-633-F70 #9249918 待售

ELLIPSOTECH Elli-633-F70 Ellipsometer是一种节省空间的高性能仪器,用于测量薄膜的光学特性和光学厚度。该椭圆偏光计普遍适用于监测各种薄膜，如氧化物、氮化物、金属和金属合金，样品厚度在0.3nm至4000nm之间。Ellipsometer的创新设计具有高度精确的激光和样品扫描系统,以及直观的用户界面和易于使用的基于窗口的环境。该系统允许用户在大样本区域内快速准确地测量各种薄膜特性。椭圆偏振仪能够测量光学厚度、折射率、消光系数、光学常数、发射光谱、吸收率、入射角、薄膜类型、厚度均匀性、折射均匀性、波导寿命、层间距等多种特性。由于系统的可重复性和可重复性,可以绝对放心地进行这些测量。椭圆偏振仪利用偏振激光束测量薄膜光学特性。入射光束由波长为633 nm的Nd： YAG激光源产生，由s-和p-偏振光组成。光的入射角是可调节的，角度灵敏度为10-5弧度，使用户能够精确测量薄膜的光学特性。椭圆偏振仪使用计算机控制的样品平移级和样品位置检测器，以确保准确的样品定位和最佳的入射角。这使得仪器能够精确地测量薄膜的光学特性，具有更高的精确度和可重复性，使用户能够根据目标在几小时、几天甚至几个月的时间尺度内准确评估光学特性。Ellipsometer还可以使用可访问专业软件的联网PC进行远程操作。这使用户能够访问仪器，并在世界任何地方进行测量，使得执行简单和复杂的光学测量极为容易和方便。椭圆偏振仪操作简单，为薄膜性能的测量提供了强大的性能。它具有业界领先的耐用性和鲁棒性,可确保长期准确可靠的测量。光学特性的实时图形显示使这种仪器易于使用，并帮助用户快速识别出用于测量的最佳光学参数。