二手 GAERTNER L115 A #9166572 待售
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GAERTNER L115 A是一种先进的激光椭圆偏光计，设计用于薄膜和多层堆栈的无损测量。它利用激光产生干涉图样，然后对其进行测量，以确定样品的光学性质。L115 A是一种先进的光学计量工具，用于分析薄膜层的厚度、光学常数和其他特性。仪器配备了HeNe激光光源，波长632.8 nm，功率约2.5 mW。激光通过聚焦镜和分束器/偏振棱镜聚焦到样品上。然后入射光被反射出样品，并被反射角计偏离。使用高度敏感的CCD探测器收集数据,然后使用专有软件进行分析。这为用户提供了对样品光学常数、厚度和其他光学特性的精确测量。GAERTNER L115 A还提供了若干高级功能,如可变入射光强度、入射角度的4级微调以及精确的点扫描。此外,该软件允许用户以多种方式分析数据,包括绘制曲线和直方图。该软件还允许用户使用标准测量协议，如陶克-洛伦兹方程，精确测量样品的光学性质。L115 A是光学计量的可靠和精确的工具。其强大、用户友好的软件提供了易于使用的界面以及全面的数据分析功能。此外,该仪器可靠的激光驱动技术允许对薄膜层进行无损测量,而不会影响精度。这使得GAERTNER L115 A成为薄膜分析的理想解决方桉。
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