二手 GAERTNER L115 A #938 待售

GAERTNER L115 A是一种自动化的多角度光谱椭圆仪,可以以可重复的方式测量各种材料的光学材料特性。该设备能够对厚度不超过2微米的薄膜层进行强大、快速和高度精确的表征，范围从非磁性半导体到透明材料、介电和有机层、磁性材料以及其他金属薄膜结构。它具有快速测量各种材料一次最多四个光谱角度的光学性质的能力，使用户能够获得更多信息，更好地了解其样品的表面结构。L115 A使用自动化的样品放置、定位和特性,使过程更快速、更简单和可重复。椭圆偏光计结合了自动波长选择和始终精确的激光扫描角度，产生了前所未有的精度和可重复性。此外,它还具有闭环同差检测系统,可确保进一步的精度以及快速的数据采集和解释。分析数据采集软件包是专门为使用户快速收集数据而设计的。它还提供了快速、方便的结果获取，以便能够将椭圆偏振结果与测量单位内的其他特征化技术进行综合评估。此软件易于升级,允许用户包括其他功能,以增加对样本表面结构的了解。除了量身定制的计量能力外，GAERTNER L115 A还包括电动x-y-z定位台、样品更换器、自动对准显微镜、自动样品导航机、大气压区域探测器和污染监测器等附加功能。L115 A的操作附件种类繁多,从自动放置样品到用户友好的数据采集软件,使椭圆偏光仪成为在要求苛刻的环境中进行薄膜表征和材料特性分析的理想工具。