二手 GAERTNER L115 #131671 待售

GAERTNER L115是一种专门的光学仪器，用于测量薄膜和纳米结构的光学特性。它通常用于半导体制造、材料科学、纳米结构和光学涂层领域。该椭圆偏光计利用偏振光来确定样品的光学特性。该仪器具有模块化、灵活自动化和易于使用的平台。它配有光纤，45°-倾斜-椭圆形偏光计，角范围宽30-160°，用于测量样品的光学特性。除椭圆偏光计外，该系统还配备了自动化样品处理系统，提供机动性，并允许来自不同容器的样品自动交换。该系统的其他技术组成部分包括一个强大的电动显微镜物镜，用于样品检查和干湿清洁抽水系统。该仪器能够测量样品的多种光学特性，包括双折射、光学各向异性、厚度、折射率和吸收系数。椭圆偏光计测量这些特性的能力允许对薄膜、层和纳米结构进行全面表征。利用先进的软件平台，仪器提供了整个测量过程的自动化。这使用户能够快速轻松地进行测量。此外，该软件还提供了一个测量样本数据库，提供数据管理和分析。软件还具有图形用户界面（GUI），可以以各种格式导出数据。L115是各种科学应用的完美工具。它的自动化平台和通用软件使研究人员能够准确、快速地测量薄膜、层和纳米结构的光学特性。其易用性、灵活性和全面的数据分析功能使其成为众多研究领域的理想工具。