二手 GAERTNER L115 #9144443 待售

GAERTNER L115是专门为现代材料研究而设计的研究级光学椭圆仪。它测量光从表面反射时的偏振状态变化，用于确定薄膜材料的光学和表面特性信息。L115使用由两个偏振分析滤波器和计算机控制的"偏振分析器"组件组成的光头。这使得GAERTNER L115能够在与样品相互作用时精确测量光的偏振状态变化。这使得椭圆偏光仪可以测量材料在8-85°角范围内的反射和透射特性。该系统还能够测量各种环境中的样品，包括环境空气、真空和气体。L115具有自动化系统,可以快速连续采集多个样本。该系统可以测量薄至0.8nm或厚至8mm的样品。此外，仪器还配备了一个背薄的样品架，设计用于在测量时保持样品平坦。GAERTNER L115利用各种软件包进行数据分析,包括DataFinder、EXcalibrator和XSpectra。DataFinder能够处理和显示来自L115的实时和历史数据,而EXcalibrator有助于样品准备,并提供测量反射率和透射率的功能。XSpectra是一个功能齐全的软件包，允许用户对复杂的材料膜进行建模并执行光学诊断。GAERTNER L115是一种功能强大且用途广泛的椭圆偏光计,专为质量、精度和可重复性而设计。它为广泛的材料提供精确可靠的测量，是表面科学、光学过渡金属、半导体、光学、薄膜材料分析等领域研究人员的理想选择。