二手 GAERTNER L115 #9176770 待售

GAERTNER L115是由GAE International开发的先进椭圆仪，GAE International是全球领先的椭圆仪制造商之一，广泛应用。L115提供了对可见波长和近红外波长下薄膜光学特性的全面测量。这种最先进的椭圆偏振仪配备了一个大的样品支架，最多可容纳四个独立的样品组件，并提供包括高精度单波长、双波长和多波长快速扫描椭圆偏振（RSE）测量在内的多种测量模式。它还能够获取通常用于表征膜厚度和光学常数的单一和多个入射角、多波长椭圆偏振数据。该系统先进的光学设计允许对线性和非线性薄膜（如吸收或不吸收薄膜）进行精确的表征。其集成软件平台为用户提供了薄膜厚度测量、光学常数估计、非线性薄膜光学表征以及光谱反射率分析等多种分析工具，而无需支持任何其他软件。GAERTNER L115可提供精确、可重复的椭圆偏振数据,且操作干扰最小。它具有重复波长扫描的特点，用于测量薄膜厚度、旋转对称结构和光学常数较低的薄膜。它还包括一个集成的4D量热仪，用于测量像素级薄膜样品的物理厚度和总光学厚度。集成自动化工具（如测量计划）和扫描调度可以大大减少与获取椭圆偏振数据相关的时间,从而显着提高仪器效率和吞吐量。借助其增强的数据安全功能、加密的调节和保留的内存,即使是最敏感的数据也可以毫无问题地使用。L115可以轻松处理线性和非线性薄膜样品的一系列样本类型,使其成为学术实验室、研究设施、工业和生产应用的理想选择。其扩大的样本量和多个样本量使测量速度比以往任何时候都要快，而其优化的光学设计最大限度地减少了测量时间，从而获得更准确可靠的结果。GAERTNER L115采用尖端技术构建,可全面表征各种光学和表面特性。凭借其先进的特点、直观的软件系统和领先的光学技术，这种椭圆偏光计已成为许多研究和工业应用必不可少的工具。