二手 GAERTNER L115B #9272576 待售

GAERTNER L115B Ellipsometer是一种先进的光学测量系统，旨在精确表征薄膜和光学材料。椭圆偏光计用于测量诸如厚度、折射率、吸收以及表面和界面粗糙度等性质。L115B是使用非偏振光源、单色仪和2个视场探测器的光谱椭圆仪。光源和探测器产生的两个垂直和水平角度测量反射光的椭圆度和相移，提供了大量关于样品光学特性的信息。该设备支持多种可选配件，如各种样品支架、自动样品高温舞台、计算机控制的电动聚焦和自动弧灯。GAERTNER L115B能够测量从25°到85°的各种角度的光学特性。这样可以精确地表征非常薄的薄膜，以及更复杂的材料，包括分层和多层薄膜。它还提供高分辨率和广泛的动态范围，允许精确表征光学特性。运行L115B的软件具有广泛的分析和报告功能。GAERTNER L115B是收集各种胶片和光学材料信息以及执行自动胶片表征的强大工具。它是评估设备生产产量、故障排除问题或深入研究材料的理想选择。该设备设计为高度可靠且易于使用,具有清晰标记的按钮和参数,以及板载视频显示屏。总体而言，L115B椭圆仪是一种精确的光学测量系统，旨在提供有关薄膜和其他光学材料的详细信息。它具有广泛的角度、高分辨率和可自定义的软件,使其成为应用程序（如薄膜表征和自动薄膜评估）的理想工具。