二手 GAERTNER L115C-8 #9400516 待售

GAERTNER L115C-8 Ellipsometer是一种非常先进的工具，用于精确和无创的表面测量。它是一种光谱工具，用于测量单色光从样品表面反射后偏振的变化。这种极化或椭圆度的变化是测量材料厚度和折射率变化很小的可靠方法。L115C-8 Ellipsometer具有独特的设计，具有大直径的空气轴承样品级，使用户无需人工干预即可将样品旋转360°。它还配备了一个自动XY翻译阶段，允许测量多个样本而无需重新定位。这个翻译阶段也被设计成支持大的样品基板高达200毫米方形的大小。GAERTNER L115C-8 Ellipsometer具有很高的光学通量,使其能够以最大的对比度和锐度测量样品。它还能够测量从可见到近红外的广泛波长范围。此外，它的集成光子传感器阵列被设计为提供高精度的数据，提高对比度和信噪比。在测量精度方面，L115C-8旨在方便以纳米级精度测量样品。它还附带了多种软件包,例如横截面成像软件,可用于分析和可视化获取的数据。GAERTNER L115C-8 Ellipsometer可能被用于多种研究、开发和商业上的应用，例如对超薄膜、纳米结构、先进材料及其结构、光伏电池和半导体器件的分析。也可用于先进的工程应用，如光学计量、晶圆级可靠性测试等。此外，以纳米级精度测量小样品厚度和折射率的能力使得L115C-8特别适合光学涂层和其他光学敏感材料的表征。GAERTNER L115C-8 Ellipsometer是设计用于表面测量的通用、精确的工具。其庞大的采样级、集成的光子传感器阵列以及一系列的软件包使其能够以高精度和对比度精确测量纳米级样品。它在研究、开发和产品测试中的多种应用使得它成为一系列行业的有用工具。