二手 GAERTNER L115C #293815245 待售

GAERTNER L115C是一种自动椭圆仪，能够根据入射角和偏振角测量样品的光学特性。它在可见和近红外光谱区域（470-1100 nm）操作，极化态范围广，入射角可变。GAERTNER L115 C提供了一种准确、可靠和可重复的方法来确定单层和多层薄膜涂层的厚度和光学常数。适用于实验室、在线和在线应用。该设备配备了最新技术、增强的用户界面和极化控制，允许对各种基材进行快速、精确的表征。该系统由样品臂、光源、光学偏振器、分析仪和双探测器5个部分组成。一个单色光源用来照亮一个样品，它安装在样品臂上。然后光被光学偏振器偏振。偏振后，光线通过分析仪，使偏振平面旋转。然后，双探测器测量反射和透射光强度。然后用测得的强度来计算样品的光学常数和厚度。该单位是完全自动化和高度可靠的，提供精确和可重复的结果。机器完全可编程,可以通过串行端口或可选的控制面板进行控制。它还配备了易于使用的图形用户界面（GUI）以确保易于操作。L 115 C椭圆偏光计是测量薄膜和基材的光学常数和厚度的有力可靠的工具。它配备了最新技术，改进了用户界面和极化控制，适合广泛应用。