二手 GAERTNER L115C #9196917 待售

GAERTNER L115C是一种最先进的光学椭圆偏振仪,旨在测量各种光学特性,包括薄膜的厚度、折射率和薄膜应力。它配备了单色光源、广泛范围的探测器和偏振器，以及两个手动轴的精密光学支架。结合其直观的用户友好操作，GAERTNER L115 C非常适合薄膜和其他半导体材料的表征。单色仪提供了190nm-1600nm的广泛光谱范围，允许测量在整个光谱中性质差异很大的样品。系统的高分辨率确保精确的测量，即使在非常低的角度和角度大于70度。检测器和偏振器与单色仪相结合，可以进行各种角度和偏振的测量。这种灵活性有助于减少测量时间并确保所有测量的准确性。精密光学安装座提供两个手动轴，允许为不同的采样角度和入射角配置仪器。还可以根据需要即时调整角度,以获取范围广泛的数据。安装的高稳定性确保了准确的测量,并减少了在手动系统中发现的任何漂移。L 115 C还为数据分析和报告提供了多种选择。它能够计算和显示样品的椭圆偏振参数,并提供有关厚度、折射率和薄膜应力的信息。它还包括用于更高级分析的软件,例如拟合参数。GAERTNER L 115 C是为实验室和生产水平研究而设计的高级椭圆仪。其直观的用户友好操作、广泛的数据收集功能,以及易于使用的数据分析和报告功能,使其成为最先进的薄膜表征仪器之一。L115 C具有快速、容易和准确地测量各种光学特性的能力，是任何材料研究实验室都必须具备的。