二手 GAERTNER L115S #90998 待售

GAERTNER L115S是一种先进的椭圆仪，用于高精度测量复杂纳米结构的性能。该装置利用光干涉测量与旋转偏振器和分析器来推导样品的特性。L115S可用于纳米结构、薄膜、电解质、基材等领域的研究。GAERTNER L115S基于模块化构造，可以检测诸如薄膜厚度、折射率、光学常数以及各种样品的表面和体积材料特性等光学特性。L 115S具有集成的样品移动机构和0到180度的偏振角。该机器有两个探测器，能够进行精确的两波长测量，具有0.001度的精度和分辨率以及10 ppm的温度稳定性。机器设计有一个简单的用户界面，提供了一个直观的界面，让经验丰富的和首次使用的用户都可以轻松访问数据。强大的软件系统允许对设备进行全面控制,并可以存储多达500个测量结果以进行分析。该机配备200和633 nm激光二极管，用于可靠的测量和性能。集成探测器允许使用0-180°的全散射角范围,从而确保对大多数类型的样品进行最佳的测量。机器是自校准的，提供5-500Å的动态范围，允许在大多数样品中进行最佳可能的检测。由于它的闭环设计和高精度，L115S提供了极好的测量精度和数据的重复性。该设备直观、用户友好，可用于需要在各种应用中获得准确结果的实验室，如半导体制造、光伏和光学。L 115S具有多功能性、准确性和可靠性，是研究和材料科学应用的理想选择。