二手 GAERTNER L116 C #191770 待售

GAERTNER L116 C椭圆偏振仪是椭圆偏振分析技术中的最新技术,可快速、无损、精确地测量任何基板上的胶片厚度、层折射率和光学胶片的光学常数。这种高度先进的椭圆偏光计提供了最高的精度和可重复性，使其适用于所有可以光学研究的材料。L116 C椭圆仪专为电子材料制造、光学器件制造和生物样品表征等一系列应用而设计,具有直观、用户友好的界面,可最大限度地提高效率和运行时间。该设备具有广泛的测量模式，可以让您精确测量厚膜和堆栈。该系统由两台高功率He-Ne激光器供电，可实现较大的动态范围，使其能够以可重复精度测量0.01-100 μ m厚的薄膜。GAERTNER L116 C椭圆偏振仪还具有用于高精度测量的高级光学元件,包括伺服控制项圈和线性偏振器,可确保最高精度。此外，大样品支架和舞台允许这个单元，以适应各种基材尺寸，形状和形式。此外,该机具有自动校准功能,设置方便快捷.L116 C椭圆仪还附带了先进的数据分析软件，该软件提供了所获得数据的综合报告。这有助于确定不同的薄膜类型、层参数和工艺产量。此外，该软件还有助于分析表面膜的组成和特性，使用户能够对样品涂层和旋转涂层工艺进行调整。软件还提供椭圆偏差数据的图形显示，帮助用户更好地了解他们的结果。总体而言，GAERTNER L116 C椭圆仪是光学薄膜开发和制造、研发和金属有机化学气相沉积工业中不可或缺的工具。高度精确和可重复的测量与易于使用的数据分析软件相结合,使此工具成为任何希望以光学方式研究材料的人的强大而可靠的工具。