二手 GAERTNER L116D #9176490 待售

GAERTNER L116D是一种最先进的椭圆偏振仪,用于测量薄膜、基板和其他表面的光学特性。椭圆偏振仪测量光从样品表面反射后偏振状态的变化。L116D能够测量薄膜的厚度、折射率、消光系数和其他层性质。GAERTNER L116D有一个1 µm步长的电动级，用于精确定位样品进行表征。它使用633 nm的单频激光二极管源进行照明。它也有一个可旋转的双折射补偿器，以适当的偏振光。检测器检测反射光的变化，用来测量偏振程度作为角度的函数。L116D还利用计算机控制的偏振器来测量光线反射出样品后的强度，并使用照相机直接从图像平面测量偏振态。GAERTNER L116D利用非接触、无损成像技术测量薄膜和基板性能。这包括椭圆偏振测量、偏振成像（PI）和反射偏振成像（RI）。其单束椭圆偏光计针对200 nm至12 µm的层测量进行了优化。其PI和RI系统可测量到600 nm深度。所有的测量都是通过L116 D的嵌入式计算机收集的，这样可以方便地分析和与其他平台集成。GAERTNER L116D可用于测量多种光学薄膜和基板，包括多层膜、金属膜、介电膜和半导体。它是一种可靠的设备，灵敏度和重复性都很好，可以用于研究和生产应用。该系统还能够测量需要多束不同入射角的复杂结构，以确定双折射和延迟等特性。总体而言，L116D是一个完整的自动化椭圆仪单元，能够快速准确地测量薄膜和其他表面的光学特性。它是一种可靠、灵敏的机器，适合多种多样的应用。