二手 GAERTNER L117-C #9004407 待售

GAERTNER L117-C Ellipsometer是一种用于测量表面薄膜光学特性的设备。椭圆偏振仪使用两个偏振光源和一个光探测器来测量被研究表面反射的光的偏振状态。然后可以利用从反射光收集的数据来计算薄膜材料的厚度、光学常数和沉积增长。L117-C椭圆仪使用两个内部稳定的He-Ne激光源。第一激光器作为参考，垂直于照射样品的光束定位。第二种激光用于测量椭圆偏振反射光的大小和偏振态。光探测器由两个象限探测器组成，测量偏振态的大小和比例。然后将数据用于确定由薄膜特性影响的极化变化。这些数据随后可用于计算薄膜的光学性质，如其厚度、折射率和消光系数。GAERTNER L117-C椭圆仪是一种可靠、可重复、易于使用的薄膜分析系统。它是一个用户友好的单元，可以通过交互式图形窗口进行控制，适用于研发应用，或用于常规质量控制。它有一个集成的计算机单元，用于数据输入的液晶触摸屏，以及一个方便测量的全自动样品处理单元。综上所述，L117-C椭圆仪是一种用于测量薄膜光学性能的可靠、易于操作的机器。它使用两个激光器和一个光探测器来精确测量反射光的偏振状态，允许计算薄膜厚度、折射率和消光系数。它是一个方便用户的工具，非常适合研究、开发和日常质量控制。