二手 GAERTNER L117 C #9011501 待售

GAERTNER L117 C是一种椭圆偏振仪，它允许无损精确测量表面特性，包括样品的薄膜厚度、折射率和光学各向异性。椭圆偏振仪配备了从0°到85°的可变入射角（AOI），允许以多种角度进行测量。L117 C利用布鲁斯特角的一个变体，最常被称为单色可变角椭圆偏振（MVAE）技术，精确测量样品反射的光的偏振状态，允许深度剖析高达5微米。GAERTNER L117 C利用一种波长为632.8纳米、聚焦并入射到预设AOI样品上的氦（HeNe）激光器。偏振光再用各种分量反射，包括振幅和相位，决定反射光的相关偏振态。利用L117 C的精密光学器件和基于PC的软件对这种极化状态进行了测量和分析，将样品特性分解为纳米范围内的分辨率。样品材料的变化可以通过GAERTNER L117 C检测折射率和光学各向异性变化的能力来检测，这对于液体和固体界面特性的评估很有用。L117 C还能有效测量非常薄的薄膜厚度，并以0.2nm的灵敏度量化层状材料表面取向的差异。GAERTNER L117 C与样品保管平台集成在一起,使样品能够轻松地在x和y轴实验室表中安装和移动。支架可支持最大样品厚度为12mm的200 x 100mm样品。样品支架还配备了快速释放机制，允许快速的样品装卸。L117 C是一种无损、高度敏感的椭圆偏光计，可提供各种样品特性的精确分析。其优越的周向光学元件加上广泛的AOI测量，加上其直观的基于PC的软件，使其成为评估有机和无机薄膜、液体/固体界面以及其他纳米结构的理想工具。