二手 HORIBA / JOBIN YVON 23300014W #293644233 待售

HORIBA/JOBIN YVON 23300014W椭圆偏振仪是一种强大而精确的精密仪器，用于测量薄膜样品的光学特性。HORIBA 23300014W Ellipsometer利用Ellipsometry技术测量从样品表面反射的光的偏振态和变化,从而可以分析光学常数,如折射率和样品的反射率。椭圆表由两个主要元素组成。首先是入射计，它产生光，然后用偏振分束器偏振，然后入射到样品上。第二个元素是探测器计，测量反射光偏振的变化。探测器进一步分为一个分析仪，检测振荡平面的方向和一个CCD相机，测量来自样品的反射光强度的变化。根据波光学定律，入射和反射这两个线性偏振光束排列在垂直于样品表面的平面上。反射光束与入射光束之间的角度称为椭圆偏振角度。然后用偏振椭圆偏振法测量两束光束在不同入射角下的相对行为，即方向和大小。仪器波长635nm，全视野3mm，精度0.8弧秒。该系统还包括一个软件接口，允许实时捕获和分析数据，同时实时控制仪器的设置。JOBIN YVON 23300014W Ellipsometer是薄膜样品分析、半导体晶圆表征、着色剂沉积、表面粘附、化学、材料科学和光学工程等应用的理想仪器。该仪器的设计目的是在实验室和工业环境环境中提供高精度、可重复性和可靠性。