二手 HORIBA / JOBIN YVON Gonio 360 #293616724 待售

HORIBA/JOBIN YVON Gonio 360是一种高端椭圆偏光计，旨在提供精确的光学表征测量。专门设计用于测量薄膜的光学参数，包括折射率（n）、消光系数（k）和光学各向异性。HORIBA Gonio 360利用独特的偏振光源、高精度卡塞格林光谱仪和全自动旋转台，在-90°至+90°的角度范围内进行扫描。JOBIN YVON Gonio 360由用户友好的Windows PC软件包提供支持,该软件包提供图形用户界面（GUI）,可使用内置算法轻松设置、数据采集和数据分析。该软件能够测量和分析各种薄膜材料和结构，包括电介质、金属和半导体。Gonio 360具有独特的旋转偏振仪和可变狭缝光谱仪系统，能够对光学特性进行高灵敏度、精确可靠的测量。其精确、可重复的读数对于薄膜沉积、接触角和薄膜涂层厚度等薄膜表征至关重要。该系统装有一个固定的偏振光源，可以调整到不同的角度以产生所需的偏振，并允许精确测量薄膜的光学常数。HORIBA/JOBIN YVON GONIO 360还配备了坚固的CASSEGRAIN光谱仪，它结合了900毫米焦距和高度色差校正，在整个近红外光谱上提供了优异的性能。先进的Windows控制软件包还提供了强大的实时分析功能，用于评估整个实验范围（-90°至+90°）内薄膜的光学参数。该软件自动补偿由于反射、吸收和散射造成的光学损耗，也可用于数值推导薄膜厚度和折射率。总体而言,HORIBA Gonio 360为各种薄膜材料提供高性能、可靠和用户友好的光学特性测量。通过严格的自动角度扫描，系统能够在不到一分钟的时间内从样品中产生准确的光学参数值。