二手 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL II #293594976 待售

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II椭圆仪是一种高分辨率原位光学仪器，旨在以高精度测量基板的光学和表面特性。该仪器采用偏振调制光谱椭圆偏振（PMSE）和集成反射光谱（IRS）技术相结合，测量散射在材料表面的光随入射角和波长的变化。然后,从入射光收集的信息用于生成表面特征化数据,如薄膜厚度、折射率、光学常数和表面粗糙度。HORIBA/YVON HORIBA UVISEL II使用两个声光可调滤波器和一个白光源来快速获取数据。光源和滤波器的这种组合允许可变波长和入射角测量，而光谱仪或其他较不先进的方法是不可用的。例如，波长在200到1000 nm之间的可变波长范围允许高分辨率的表面表征。可变的入射角范围为1°-85°,允许以偏离法线的角度精确建模角度。仪器设有电脑控制的机动旋转台，以确保精确度。JOBIN YVON/YVON JOBIN YVON UVISEL II还包括一个温度控制和真空室，以扩大系统在测量温度敏感材料和样品时的能力，采用集成的涡轮泵浦真空进行原位测量。这种能力使得测量由于热不稳定而无法进入的薄膜成为可能。HORIBA/JOBIN YVON/YVON UVISEL II利用了一种用于分析各种参数和材料的多功能软件。该系统能够控制机动化阶段并快速分析数据。此外，它对用户友好，便于数据采集和操作。软件包括参考材料库,并提供用户定义的公差限制,以检测测量材料属性和期望值之间的差异。HORIBA/YVON HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II是一种理想的仪器，用于各种行业，包括半导体、医疗器件、光伏、玻璃制造。该系统的多功能性和高精度使其适合研究和生产应用。仪器功能广泛，占地面积小，软件界面直观，是精密光学和表面表征的理想选择。