二手 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL II #9038921 待售

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II是一种椭圆偏振仪，一种用于测量在表面上形成的薄膜的厚度和光学特性的仪器。椭圆偏光计分析偏振光从表面反射时的变化，允许用户确定表面的光学性质。HORIBA UVISEL II使用旋转分析仪，允许在一系列入射光波长范围内进行广泛的测量。这包括对折射率、消光系数、吸收系数等光学常数的研究。椭圆偏光计在工业上被广泛用于研究在表面形成的薄膜的光学性质，包括硅、砷化​​氙和磷化铵等半导体基板。椭圆偏光仪还用于研究、材料表征和制造过程中的质量控制。JOBIN YVON UVISEL II具有利用垂直安装的双激光束源的闭合光路系统。这使用户能够在250到840纳米（nm）的入射光波长范围内进行测量。波长范围也可以用来建议用户在任何特定的激光角度使用最佳测量。此外，该仪器还包括一个偏振分析仪，它使用入射激光束在样品表面以s-和p-偏振角进行测量。该仪器提供了一系列的计算机控制选项，具有容易的点拍测量、自动化的样品更换器和更高级的程序，允许用户配置仪器进行更详细的研究。数据是通过一台连接的计算机收集的，该仪器采用数字反馈控制，以确保准确的可重复性。UVISEL II有一个内置的样品室，其温度和湿度控制，允许测量从室温可达200摄氏度。该仪器还被设计为与背景减法和背景校正测量相兼容，使其能够自动校正可能对测量产生的环境影响。总体而言,HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II是一种高度精确和可靠的椭圆偏光计,它提供了一系列测量选项,使用户可以深入了解在表面上形成的薄膜的光学特性。该仪器用户友好，易于使用，在数据收集方面可提供高精度。