二手 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL #149667 待售
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ID: 149667
Spectroscopic ellipsometer
50 Hz, 220V
Does not include PC or software
Broken hinge
De-installed.
HORIBA/JOBIN YVON UVISEL是一种最先进的矢量光谱椭圆偏振仪（VSE），用于测量从紫外线到红外线的广泛光谱范围内的薄膜和其他材料。该仪器设计用于无损薄膜厚度、光学常数、散射和薄膜均匀性测量。通过在一定范围内测量薄膜的光学特性，可以确定界面层的性质及其组成。HORIBA UVISEL利用旋转偏振器和分析仪来测量设备光谱范围内不同波长的光强度变化。对光源和样品之间的偏振进行了修改，以测量表面和界面层反射回来之前和/或之后的光学效果。这是矢量光谱椭圆偏振法的一个优点，因为它可以在不使用复杂样品制备的情况下进行薄膜表征。入射偏振光的调制是以可以测量样品完整光谱椭圆偏振信息的方式进行的。完整的光谱可以在可见、近紫外线和光谱分辨率为0.5 nm、动态范围高达六十年的中红外区域内测量。器件的角分辨率为0.004°，用于以更好的精度测量动力范围。JOBIN YVON UVISEL的主要部件包括一个XYZ级、高级光学、探测器阵列、获取电子、计算机控制。XYZ级提供了对样品的三维平移控制，而先进的光学器件则使用激光干涉测量来提高光斑尺寸精度和扫描速度。该系统配有探测器阵列，用于测量光谱范围内每一波长的辐射强度。用高速集成系统获取数据，通过计算机控制结果。UVISEL是精确薄膜表征的理想仪器，从电子元件和金属涂层的单层厚度测量到光学基板和光电元件的薄膜厚度测量。它也被用于电介质常数和吸收系数等薄膜的光学性质，以及各向异性的材料性质。该系统广泛应用于先进薄膜表征是必须的行业，如半导体、汽车、医疗器械制造等。这使得HORIBA/JOBIN YVON UVISEL成为广泛研究应用的通用工具。
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