二手 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL #9213654 待售

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL是一种先进的椭圆偏振仪，用于在纳米级精确测量薄膜厚度。该仪器采用功能强大、用户友好的软件包设计，简化了薄膜的复杂测量和操作。它有一个自动化的测量周期，使用户能够快速获取样品光学质量的准确数据。这使用户能够获得丰富的分析见解,并充分利用系统的功能。考虑到样品表面和光源之间复杂的光学相互作用，HORIBA UVISEL利用获得专利的椭圆偏光计技术来测量基板和薄膜的光学特性。光学测量用于确定样品的光学特性。椭圆偏光计配备了多种可互换的软件模块和光学参数，可以设置为配置样品的测试条件。JOBIN YVON UVISEL适用于质量控制、光刻工艺控制、光学涂层表征、电子材料性能测定、薄膜结构测定等方面。它提供了多种可检测的光学特性,如OPV、反射和厚度。高级板载软件允许用户从单个平台执行各种数据分析功能和测量。该仪器可与PC等自动化系统集成，用于多级数据分析。此外，该系统还配备了符合人体工程学设计的光学台，以便在进行测量时轻松定位样品。此外,光纤输送系统可确保分析设备的精确定位。综上所述，UVISEL是为质量保证和薄膜测量应用而设计的高精度椭圆偏光计。凭借其先进的设计，该仪器为用户提供了快速准确地测量薄膜的能力。板载软件可实现自动数据采集和分析,而通用附件可方便地定位样品。