二手 J.A. WOOLLAM H-VASE #9182681 待售

J.A. WOOLLAM H-VASE（Horizontal Variable Angle Spectroscopic Ellipsometer）是一种椭圆偏光计，设计用于薄膜和表面遥感的定量表征。它能够在不使用接触探针或其他物理测量的情况下测量样品表面的光学特性。H-VASE为商业、工业和科学应用提供了高速、精确和可靠的独特组合。仪器的自动测量功能提供了可重复的薄膜测量，具有很大的动态范围用于精确的厚度测定。它有一种可配置的测量方法来优化测量覆盖面和捕获感兴趣的薄膜特性。J.A. WOOLLAM H-VASE的垂直和水平可变入射角设计确保了精确的薄膜表征。可变入射角避免了考虑由于入射角而产生的任何潜在影响的需要。可变入射角允许测量折射率和消光系数不同的材料。椭圆度和反射测量是使用白光源进行的，它提供了对入射光全光谱的精确测量。这允许表征反射率、吸收和包括波长色散在内的薄膜光学常数。激光不需要笨重的偏振器和分析器。还可以使用光谱椭圆偏振仪进行高级光学模拟。内置的光学彷真软件使用户能够准确地模拟和分析薄膜的光学特性。软件还允许对工艺参数进行迭代优化，以获得薄膜表征的最佳光学参数。H-VASE提供一个或多个测量甲板。单层配置允许在一次测量中最多测量三层薄膜材料。多层测量甲板最多可容纳七层薄膜材料。J.A. WOOLLAM H-VASE还具有可变角度的样品放置功能,可在单个基板上对多种薄膜进行测量。可变角度取样位置消除了使用控制取样来解释入射角效应的需要。可变角度放置也不需要对不同厚度的薄膜进行多个测量步骤。综上所述，H-VASE是一种光谱椭圆仪，旨在提供精确和可重复的薄膜表征。该仪器提供了可变的入射角测量、先进的光学模拟以及最多可测量七层薄膜材料的能力。这使得J.A. WOOLLAM H-VASE成为商业、工业和科学电影表征应用的理想工具。