二手 J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II #293815174 待售

J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II是一款配备了红外光谱能力的精密椭圆偏光计，设计用于红外光谱范围内精确的薄膜表征。椭圆偏振法（Ellipsometry）是一种常用的光学技术，通过分析薄膜基板系统反射或透射时偏振状态的变化，来测定薄膜的厚度、折射率和其他光学性质。IR-VASE Mark II使研究人员和工程师能够对广泛的材料进行无损分析，包括半导体、电介质、聚合物和生物样品。J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II的一个关键特征是它能够测量电磁光谱红外区域的光学特性,通常范围为大约2.5 μ m至25 μ m （4000 cm-1至400 cm-1）。这种扩展的光谱范围允许对具有独特红外吸收特征的材料进行表征，可以对化学成分、分子结构和键合构型提供有价值的见解。IR-VASE Mark II通过结合椭圆偏振和红外光谱技术，提供了一种全面的薄膜分析方法，对材料科学、物理、化学和工程领域的研究应用特别有益。该仪器采用基于旋转补偿器的椭球偏振配置，对光的偏振状态进行调制分析，提取复杂折射率、层厚、表面粗糙度等光学参数。J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II配备了先进的光学、探测器和软件算法，以保证高测量灵敏度、准确性和可重复性。它可以容纳各种样品类型、几何形状和温度，使其可以广泛用于各种实验设置和测量条件。IR-VASE Mark II提供多种测量模式，包括反射和透射椭圆偏振，以及红外光谱椭圆偏振。反射测量是通过将偏振光束以特定入射角引导到样品表面上并检测反射光来进行的。透射测量涉及通过样品的光和检测透射光。红外光谱椭圆偏振法将这些技术与红外光源和探测器相结合，使得能够对样品中的分子振动和吸收进行详细分析。该仪器由方便用户的软件控制，该软件可方便设置、数据采集以及椭圆测量和光谱测量的分析。该软件提供了可自定义的建模工具,用于根据光学常数、层结构和样本属性将实验数据拟合到理论模型。这些建模功能使研究人员能够提取有关薄膜的组成、厚度和光学行为的有价值的信息，以及监测薄膜生长、沉积或蚀刻等过程中实时的变化。综上所述，J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II椭圆偏光仪是一种功能强大的工具，用于表征红外光谱范围内的薄膜，提供先进的测量能力、精确的数据分析，以及在各种科学和技术领域进行研发的通用实验选择。其椭圆偏振和光谱技术的结合，为研究人员全面了解薄膜材料中的光学性质、分子结构和化学成分，为材料科学和工程的新发现和进步铺平了道路。