二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #293585945 待售

J.A. Woo llam J.A. WOOLLAM M-2000是一种椭圆偏光计，用于测量材料样品的薄膜厚度、折射率和吸收指数。它通过评估由薄膜样品上表面反射引起的光的偏振状态的变化，提供了准确而健壮的测量。它基于椭圆偏振原理工作，即以不同角度测量反射光的比率。这款椭圆仪由J.A. Woo llam设计，以其精确度和可靠的结果而闻名。M-2000由激光照明、高反射率的平面样品级和通过分束器连接的光探测级组成。一种低相干氦硼（He-Ne）激光器被用来提供受控的单色和不相干光源。该光源指向样品，光被反射，产生椭圆偏振信号。使用偏振机制检测椭圆偏振信号，并进一步使用处理器和符合人体工程学的图形用户界面进行解释。J.A. WOOLLAM M-2000的设计涵盖范围广泛的薄膜,包括单层薄膜和多层薄膜。激光束的入射角是可变的，允许广泛的研究如实时光谱学和剖面图，可以用来获取薄膜厚度、折射率和吸收指数等信息。此外，M-2000还配备了计算机硬件和软件包，便于数据分析和数据查询。J.A. Woo llam J.A. WOOLLAM M-2000由于其先进的设计和技术进步，被认为是半导体和光学涂层行业研究和行业环境的有效工具，使用户能够深入了解其材料样品的物理特性。它具有很高的准确性和可靠性，操作简单。