二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #293618164 待售

J.A. WOOLLAM M-2000椭圆仪是一种高度先进的光学光谱工具，用于测量薄膜的光学变化。它是一种使研究人员能够以无与伦比的精度和精度测量薄膜厚度、层密度、折射率和光学常数的工具。M-2000 Ellipsometer在200-2000 nm的范围内工作,并部署偏振激光光源来测量s-和p-偏振反射光的比率。通过感测椭圆偏振光的波长和角度依赖性累积，用户可以准确获得表面和底层的性质。该系统还通过各种软件解决方桉提供数据传输,包括RSoft Suite软件、Excel Add-In软件和WCATM连接选项。J.A. WOOLLAM M-2000采用先进的激光技术和直观的7英寸触摸屏,为表面特性测量提供最快、最先进的解决方桉。M-2000利用集成的True Ellipsometry技术,无需输入薄膜参数。这样可以确保更快、成本优化和更准确的测量。曲面法向自动对齐特征通过自动设置曲面法向角度来确保峰值精度。Woollam J.A. WOOLLAM M-2000还具有集成的多方向扫描功能,允许从不同角度同时进行测量。结合ZYGO卓越的光学技术和先进的激光技术,在薄膜测量中提供了极致的精度和精确度。此外，M-2000提供了一个具有温度控制室的高度可靠和坚固的解决方桉，它保持了环境，以保持测量结果的稳定和可重复。所有这些功能和更多的功能使J.A. WOOLLAM M-2000椭圆仪成为当今市场上最先进的工具之一。