二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #293631836 待售

J.A. WOOLLAM M-2000椭圆仪是一种用于薄膜表征和过程控制的光学仪器。M-2000装有一个在可见光谱（波长632.8 nm）中发光的氦-霓激光器，在样品表面撞击前将其极化。然后光的偏振被光路中的光学元件改变，它们与样品表面上已经存在的薄膜相互作用。在样品前后放置的两个高灵敏度、大动态范围探测器有助于检测光偏振状态的这些变化。J.A. WOOLLAM M-2000独一无二的专利旋转分析仪技术消除了样品双折射引起的不良信号分量，从而在不到几百纳米厚的薄膜测量中实现了前所未有的精度和可重复性。倾斜入射光束的使用还大大减少了设计引起的错误,为高通量环境中的用户提供了关键优势。M-2000的时间分辨率也很高，系统的最大响应为1毫秒，可以对整个样品表面快速变化的薄膜进行超快监测。测量到的信号可以使用随附的软件包（J.A.W. ThinFilmLab）去卷积成其薄膜组件，其中包含模型的数据库和最近发布的全局优化例程的接口（如Levenberg- Marquardt算法）。这样就可以同时拟合多层，以及以惊人的精度确定任意薄膜的厚度和光学常数。此外,对于需要额外控制的用户,可以自定义软件包以适应任何所需的模型。对于便携式应用程序,J.A. WOOLLAM M-2000具有集成的XY级和电动定位功能,可对大样本量进行自动测量。该仪器还非常易于操作，具有简单的图形用户界面，可确保快速和最佳的数据收集。其紧凑的设计、低功耗以及即使是最复杂的样品也能处理，使其成为任何参与薄膜研究的实验室的宝贵工具。