二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #293664041 待售

J.A. WOOLLAM M-2000 Ellipsometer是一种专门设计用于表征薄膜系统和确定复杂光学常数的设备。它具有前所未有的数据速度和准确性，是光学表征的顶级线形工具之一。M-2000使用一类椭圆偏振技术，称为可变角度光谱偏振（VASE）。这种技术在分析薄膜时特别有用，因为它可以在扫描几个波长的同时，在一秒内的大角度范围内测量光学常数。J.A. WOOLLAM M-2000还采用双波长（λ/2）技术来测量低至亚纳米厚度的薄膜的光学各向异性。M-2000拥有五自由度的机械设备,可以实现前所未有的测量速度和准确性。该设备具有集成的采样级,可监控入射平面中的采样运动,最长可达± 4°。这样可以进行精确的测量,而无需专用的样品安装系统。J.A. WOOLLAM M-2000最令人印象深刻的特点是其自动制图和采样单元。只要单击几下，用户就可以在一定角度和波长范围内创建15 x 15个不同参数的地图。这意味着一小部分时间内的映射非常精确。在光学和硬件方面，M-2000配备了双通道光谱仪，使其能够以每波长最多4个不同的角度检测多达12个不同波长（195 nm至1675 nm）的线性偏振光。该机针对定制设计的样品支架进行了优化,并具有卓越的光电源单元,以确保准确的结果。J.A. WOOLLAM M-2000包括高级软件包,如功能齐全的M-View Pro GUI,并提供广泛的自定义和报告选项。它还包括用于多元分析的Python库,以及用于绘制结果的MATLAB脚本。这为数据分析和跟踪提供了一系列令人难以置信的选项,以满足每个用户的独特需求。总体而言，M-2000椭圆仪是薄膜光学表征的终极工具。它具有精确的速度、精度和易于使用的软件，是任何应用的理想设备。