二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #9225248 待售

J.A. WOOLLAM M-2000是一种先进的椭圆仪，用于测量透明薄膜的厚度。椭圆偏光计有两个独立的可变角度光谱偏光计（VASE）系统，每个系统都具有测量包括金属、氧化物、半导体和聚合物在内的广泛材料的能力。M-2000具有测量困难样品的能力，包括单层、多层、阶梯状厚度层和折射率可变的层。它还可以测量折射率不同于背景的样本，如高折射率对比样本。J.A. WOOLLAM M-2000在薄膜厚度测量方面提供了卓越的精度和可重复性。它具有高性能的CCD阵列探测器，以及高度均匀的入射光偏振控制和快速的探测器读出时间。入射角也可从5°到85°编程。M-2000配备了强大的分析软件，提供广泛的统计数据分析。软件还存储和管理来自无限数量测量的数据以及以前的结果,以便于比较。J.A. WOOLLAM M-2000通过其高分辨率椭圆偏振（HRE）设施,为测量和分析样品的多层提供了更大的灵活性。它相当通用，能处理大部分研究和工业研发实验室的应用。在测量过程中可以控制样品温度，并精确测量应变和应力。M-2000还配备了用于测量平板样品的线性液晶模式,以节省更长的测量时间。J.A. WOOLLAM M-2000易于操作,需要最少的操作员培训。它非常适合材料研究，包括薄膜表征和半导体、涂层和光学中的沉积过程研究。也广泛应用于生物化学、半导体材料、薄膜合成等领域。