二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #9249787 待售
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已售出
ID: 9249787
优质的: 2010
Spectroscopic ellipsometer
With EC-400 controller
M-2000X Lamp controller, model DET-100
Unit source: FLS-300 75W Xe Arclight source
Detection unit: MQD Single
Stage: 8-1/2"
Automated mapping part
Spectral range: 245-1000nm
470 Wavelengths
Automated angle base
Focusing option
Spot size: 500um
Includes:
(2) Focusing probes
Additional stage
Computer
Monitor
Cable
Vacuum pump (Small)
Does not include NIR
2010 vintage.
J.A. WOOLLAM M-2000是一种通用的光学测量工具，用于测量各种材料上薄膜的厚度和光学参数。它的工作原理是用偏振光照射样品，检测产生的反射，并用精密的软件分析结果，以确定样品的光学特性。通过测量从样品反射出的不同角度和波长的光强度之间的差异，M-2000可以精确地测量一层膜的厚度或涂层到原子水平。除了测量薄膜厚度外，J.A. WOOLLAM M-2000还可用于测量样品的折射率、光学透射、吸收率、消光系数和吸收系数。M-2000是一种多参数光学工具,意味着它可以从同一样本中测量多种特性,而无需复杂且耗时的后处理。它提供各种样本架尺寸，可容纳直径从200毫米到直径4.6毫米不等的样本架。此外,它的自动校准功能便于设置,并确保测量的重复性。J.A. WOOLLAM M-2000配备了CCD摄像机，具有很高的光谱分辨率，能够在近红外和可见范围内对样品进行表征。它还具有温度和外部振动控制功能,有助于最大程度地减少潜在误差并确保可靠的结果。当由计算机直接或远程控制时,M-2000还提供了更高的灵活性和扩展功能。总体而言，J.A. WOOLLAM M-2000是一种有效、可靠的薄膜和材料光学表征和测量解决方桉。它使用先进的光学和软件技术快速、方便地精确测量样品的光学特性，使其成为各种行业的理想工具。
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