二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #9257200 待售

J.A. WOOLLAM M-2000椭圆仪是一种利用偏振光测量被分析样品材料厚度变化的装置。测量是通过在测量所得反射光的旋转之前先将特定频率的光照射到样品材料表面上来完成的。样品被放置在封闭在特高压室中的样品盘的顶部，从而能够在真空环境中精确测量测量。安装在旋转平台上的样盘，允许不同的入射角和偏振角用于不同的测量。M-2000光源为147.5 nm ArF*激光器，光束长度为2.0 cm，光束强度为10 nanoWatts/cm2。它配有CCD探测器，用于监测样品极化和评估材料的双折射。它还有激光线和激光干涉仪，用来测量光束相对于样品的偏振变化量。系统还有一个内部处理器,处理测量的数据并提供实时结果。它还可以存储多达5000条曲线进行比较。此外，该系统还能够进行长期数据采集和数据分析战略，使用户可以全面了解其影片随时间的演变。J.A. Wooellam J.A. WOOLLAM M-2000是测量样品材料厚度变化的有效工具，因为它能够测量不同入射角的极化变化。此外,内部处理器允许数据分析和存储曲线的能力,使其成为研究和质量控制的有用工具。此外，其测量双折射的能力和真空环境使其成为专门应用的理想工具，例如在光学领域。