二手 J.A. WOOLLAM M-2000UI #9268961 待售

J.A. WOOLLAM M-2000UI是一种计算机化的椭圆偏光计，旨在测量材料的光学特性。它能够高精度、高精度地测量薄膜材料的光学常数、厚度和折射率。M-2000UI具有强大的能力，使其成为材料研究和生产的宝贵工具。J.A. WOOLLAM M-2000UI能够测量从0.2 nm到3 µm的薄膜厚度。它是通过增加一个成像系统，使更好的视觉表现的薄膜特性增强。测量是在使用各种光源的一系列材料上进行的，包括偏振光、非偏振光和单色光。用于操作M-2000UI的软件设计为用户友好，可用于快速可靠地生成测量结果。它还允许用户通过多种方法来评估胶片属性，包括多组分分析、椭圆偏差拟合和可给出一致结果的集成拟合列。J.A. WOOLLAM M-2000UI还包括一个先进的温度控制功能，它将在0.01 °C的精确范围内监测和调节温度。此功能非常适合确保各种材料的结果一致,同时提供更高效的过程。M-2000UI还拥有主动振动控制系统，可以测量易受振动影响的样品。利用此功能,J.A. WOOLLAM M-2000UI在测量移动中的材料时提供了出色的性能。M-2000UI是材料研究和生产的重要资产。利用其能力范围，可以高精度、高精度地测量薄膜材料的光学常数、厚度和折射率。其用户友好的软件和温度控制功能确保了一致的结果，而主动振动控制系统则保证了测量过程中的稳定性。