二手 J.A. WOOLLAM M-2000UI #9277548 待售

J.A. WOOLLAM M-2000UI是一种先进的椭圆偏光计，已经被开发用来精确地测量薄层的光学特性。M-2000UI提供了不同深度和角度的折射率、层厚、吸收系数和晶体取向的准确数据。这有助于识别材料的物理性质，如半导体、聚合物、涂层和薄膜。J.A. WOOLLAM M-2000UI由偏振装置、一对衰减板、硅探测器和光学级组成。波长可以在253.6到700纳米之间变化，这取决于所测量的材料。光被偏振，然后分裂成两个平面偏振分量，成功地分析了层的光学性质。然后对数据进行记录和分析,以确定有关样品材料的信息。M-2000UI还有一个集成单元，包括反射仪、光学显微镜和调节照明水平的可调电源。这个综合单元允许用户使用各种测量技术，提供关于各种样品光学特性的深入信息。J.A. WOOLLAM M-2000UI是一款可靠、用户友好的机器,性能卓越。它易于使用,能够快速、准确地处理数据。M-2000UI适用于各种应用,包括光散射和薄膜生长、光学表征、半导体诊断、多层光学涂层、光电器件、微波、移动电信、光学显示器、化学传感器表征和光学材料研究。为提高J.A. WOOLLAM M-2000UI的性能,可以实时进行数据和分析,也可以在离线模式下处理结果。嵌入式软件还可以通过Web界面远程访问,允许用户从任何位置访问和管理其数据。此外，结果可以很容易地以与各种软件包兼容的格式上传。M-2000UI是椭圆偏振技术的顶峰，可以依靠它对所有类型的样品进行精确的分析。该设备能够快速分析和记录各种材料的光学特性，使其成为许多行业的宝贵工具。