二手 J.A. WOOLLAM M-2000X #9231739 待售

J.A. WOOLLAM M-2000X是一种椭圆仪，用于测量材料中的光学特性。椭圆偏振法是一种无损技术，用于确定材料的厚度、折射率、消光系数和光学常数。这个椭圆偏光计测量单色光束在反射材料样品时的偏振变化，以确定其光学特性。M-2000X拥有光学、机械和电子元件的行业领先组合。其光学模块包含高性能的InGaAs光谱仪，配有超高精度的Wollaston棱镜。这种棱镜能够测量偏振光从广源角度到高数值孔径。光线与样品相互作用，然后通过计算机控制的机动定位系统定向到光谱仪。使用J.A. WOOLLAM M-2000X进行的测量是在无振动和无尘的环境中进行的，从而确保精确和可重复的结果。M-2000X的主要能力包括测量从紫外线到红外区域范围内样品的光学常数，以及薄膜光学常数、薄膜厚度测量、应变梯度、逐层厚度和介电常数测量。J.A. WOOLLAM M-2000X还提供多种用户友好的功能,包括自动测量吞吐量、直观的Windows界面、强大的数据分析和绘图功能,以及与各种样本持有者的兼容性。此外，该仪器的设计还可以方便地集成到用户控制、灵活性和准确性至关重要的生产线和研究过程中。M-2000X是一种创新和可靠的椭圆仪，具有卓越的性能，适用于广泛的光学研究和测量需求。它提供了无与伦比的准确性和多功能性组合,使其成为各种应用程序的理想解决方桉。