二手 J.A. WOOLLAM M-88STD #293649572 待售

J.A.Woollam J.A. WOOLLAM M-88STD是一种椭圆偏光计，其设计目的是为薄至10至20埃厚度的薄膜提供精确的无损厚度测量。该仪器非常适合测量薄膜的光学特性，用于薄膜氮化物涂层、防反射涂层、医疗器械医疗涂层等应用。M-88STD是利用光学干涉、反射和折射原理测量薄膜材料光学特性的光谱显微镜。它由两个调制激光光源（p偏振和s偏振），一个分析仪，样品持有者，和光探测器组成。激光束穿过样品，被显微镜物镜聚焦成入射角。可以在舞台上放置一个样品来测量光学干涉。椭圆偏振仪通过监测光通过界面时偏振的变化来测量薄膜的光学特性。光被分成一个p偏振光束和一个s偏振光束，光束的偏振可以用线性偏振器调节。S偏振光束从样品反射到分析仪，p偏振光束继续穿过样品，然后进行调制。探测器探测到的光强度用于计算薄膜的光学特性。J.A. WOOLLAM M-88STD可以测量各种光学性质，如：光学厚度、折射率、消光系数、吸收系数、光学常数、精细度或对比度。该仪器的最大分辨率为1埃，大多数样品的动态范围为2至6十年。在大型液晶显示屏上可以实时看到样品的光学特性。该仪器还配备了一系列分析、数据处理和报告功能，例如：易于使用的软件、多层建模、极化分析和结果的图形显示。M-88STD适用于半导体薄膜沉积、微电子封装、涂层应用、化学气相沉积、薄膜光学塑料涂层、薄膜功能防晒霜、薄膜传感装置等应用。J.A.Woollam J.A. WOOLLAM M-88STD是一种可靠和准确的仪器，适用于广泛的研究、开发和工业应用。