二手 J.A. WOOLLAM RC2 #293627109 待售

J.A. WOOLLAM RC2是一种先进的椭圆仪，旨在测量薄膜结构和材料性能。它是为提供精确精确的厚度、光学常数和折射率测量结果而建造的高端激光基设备。RC2设计为将光头、激光、数据采集系统、入射角控制装置和测角仪合并为一个单元的单个单元。这允许测量多个角度的样本,包括在单个序列中最多六个从70度到84度的入射角。J.A. WOOLLAM RC2的光学头利用镜子和透镜的机器将激光束聚焦到样品上。激光工具包含一个二极管泵浦的固态激光器，能够为不同的实验产生多种波长。测角仪用于相对于激光旋转样品，以确保测量是可重复和准确的。RC2还具有先进的角度测量和数据采集资产,可同时获取高达四个入射角的样本反射参数,分辨率为0.1度。这允许对薄膜结构和材料特性进行可重复和准确的测量。J.A. WOOLLAM RC2提供了厚度和光学常数测量的精确度和精确度,并能够同时测量不同波长和不同入射角。这使得它成为各种薄膜结构和材料性能测量的绝佳选择。它能够测量从高反射性氧化物到透明半导体材料的各种材料，这使其成为研究和开发的宝贵工具。